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晶圆缺陷检测设备的工作原理是什么?

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岱美仪器技术服务2023-12-31

晶圆缺陷检测设备的工作原理是利用光学、电学、声学等原理,对晶圆表面和内部的缺陷进行检测。其中,光学原理是晶圆缺陷检测设备常用的原理之一。晶圆缺陷检测设备通过照射晶圆表面的光线,利用反射、透射、散射等现象,对晶圆表面和内部的缺陷进行检测。同时,晶圆缺陷检测设备还可以利用电学原理,通过对晶圆表面的电场、电流等参数进行测量,检测晶圆表面和内部的缺陷。此外,晶圆缺陷检测设备还可以利用声学原理,通过对晶圆表面和内部的声波进行检测,检测晶圆表面和内部的缺陷。我们岱美重信誉、守合同,严把产品质量关,热诚欢迎广大用户前来咨询考察,洽谈业务!

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简介:岱美仪器,专注于半导体行业40多年,可提供欧美先进设备,拥有雄厚的技术积累,以及专业的技术服务团队。
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晶圆缺陷检测设备
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