TO220封装的快恢复二极管MURF1660CT
快恢复二极管的总功率损耗与正向通态压降VF,通态电流IF,反向电压VR,反向漏电流IR,正向过冲电压Vfp,反向恢复漏电流峰值Irp。以及反向电流下降时间tb等有关。尽管如此,对于给定的快恢复二极管应用,通态电流和反向电压通常应用电路决定的,只要不超过额定使用条件即可。然而在给定的IF和VR条件下的VF,IR,Vrp,Irp和tb等二极管的特性却是由所使用的快恢复二极管本身的性能决定的。我们能通过算式5清楚地看到,上述任何一个参数的升高都将导致功率损耗的増加。相反地,如果我们能够降低其中的某些参数值,则可以降低功率损耗,在所有的功率损耗中,通态损耗所占比例,因此降低通态损耗是降低总功率损耗的主要路径和方法。而对于通态损耗来讲,正向电流由应用条件和额定决定,为恒定值,占空比也由应用条件决定,由算式1可以清楚地看到降低正向压降是降低功率损耗的主要途径。而正向压降正是快恢复二极管本身的性能能力决定的。所以选择低功耗二极管主要的要看在同等条件下的正向压降。压降越低的,其功耗也越低。 MUR1620CT二极管的主要参数。TO220封装的快恢复二极管MURF1660CT
电解用整流器的输出功率极大,每个整流臂往往由十几个乃至数十个整流元件并联组成,均流问题十分突出。关于电流不平衡的产生原因和解决措施,可参看本站有关电力电子快恢复二极管串、并联技术的文章,此处提示结构设计中的一些注意点。1)当并联快恢复二极管数很多,在结构上形成分支并联回路时,可以将快恢复二极管按正向压降接近程度分级分组,在可能流过较大电流的支路里,装配正向压降稍大的元件组。2)在快恢复二极管开通前后阳极-阴极间电压较高、开通后电流上升率较大时,常选用开通时间尽量一致的快恢复二极管。但由于快恢复二极管参数可选择的自由度太小,为了经济和维修更换方便,常和电路补偿方法结合使用。采用补偿后能使元件开通时间的分散度在5~6µs左右较合适。补偿方法可以在每个快恢复二极管支路中串入均流电抗器,或者将整流变压器阀侧线圈多分几组,减少每个线圈支路中的快恢复二极管数。 快恢复二极管MURB1660MUR2060CD是什么类型的管子?
2)快恢复、超快恢复二极管的结构特点快恢复二极管的内部结构与普通二极管不同,它是在P型、N型硅材料中间增加了基区I,构成P-I-N硅片。由于基区很薄,反向恢复电荷很小,大大减小了trr值,还降低了瞬态正向压降,使管子能承受很高的反向工作电压。快恢复二极管的反向恢复时间一般为几百纳秒,正向压降约为,正向电流是几安培至几千安培,反向峰值电压可达几百到几千伏。超快恢复二极管的反向恢复电荷进一步减小,使其trr可低至几十纳秒。20A以下的快恢复及超快恢复二极管大多采用TO-220封装形式。从内部结构看,可分成单管、对管(亦称双管)两种。对管内部包含两只快恢复二极管,根据两只二极管接法的不同,又有共阴对管、共阳对管之分。图2(a)是C20-04型快恢复二极管(单管)的外形及内部结构。(b)图和(c)图分别是C92-02型(共阴对管)、MUR1680A型(共阳对管)超快恢复二极管的外形与构造。它们均采用TO-220塑料封装,主要技术指标见表1。几十安的快恢复二极管一般采用TO-3P金属壳封装。更大容量(几百安~几千安)的管子则采用螺栓型或平板型封装形式。2.检测方法(1)测量反向恢复时间测量电路如图3。由直流电流源供规定的IF,脉冲发生器经过隔直电容器C加脉冲信号。
20A以下的快恢复及超快恢复二极管大都使用TO-220封装形式。从内部构造看,可分为单管、对管(亦称双管)两种。对管内部涵盖两只快恢复二极管,根据两只二极管接法的不同,又有共阴对管、共阳对管之分。图2(a)是C20-04型快恢复二极管(单管)的外形及内部构造。(b)图和(c)图分别是C92-02型(共阴对管)、MUR1680A型(共阳对管)超快恢复二极管的外形与结构。它们均使用TO-220塑料封装,主要技术指标见表1。几十安的快恢复二极管一般使用TO-3P金属壳封装。更大容量(几百安~几千安)的管子则使用螺栓型或平板型封装形式。2.检测方法1)测量反向恢复时间测量电路如图3。由直流电流源供规定的IF,脉冲发生器经过隔直电容器C加脉冲信号,运用电子示波器观察到的trr值,即是从I=0的日子到IR=Irr日子所经历的时间。设器件内部的反向恢电荷为Qrr,有关系式trr≈2Qrr/IRM由式()可知,当IRM为一定时,反向回复电荷愈小,反向回复时间就愈短。2)常规检测方式在业余条件下,运用万用表能检测快回复、超快恢复二极管的单向导电性,以及内部有无开路、短路故障,并能测出正向导通压降。若配以兆欧表,还能测量反向击穿电压。实例:测量一只超快恢复二极管,其主要参数为:trr=35ns。MUR1640CD是什么类型的管子?
本实用新型关乎二极管技术领域,更是关乎一种高压快回复二极管芯片。背景技术:高压快恢复二极管的特征:开关特点好、反向回复时间短,耐压较高,但由于正向压降大,功耗也大,易于发烧,高压快回复二极管的芯片一般都是封装在塑料壳内,热能不易散发出去,会影响到二极管芯片的工作。技术实现元素:(一)化解的技术疑问针对现有技术的欠缺,本实用新型提供了一种高压快回复二极管芯片,化解了现有的高压快回复二极管易于发烧,热能不易散发出去,会影响到二极管芯片的工作的疑问。(二)技术方案为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种高压快回复二极管芯片,包括芯片本体,所述芯片本体裹在热熔胶内,所述热熔胶裹在在封装外壳内,所述封装外壳由金属材质制成,所述封装外壳的内部设有散热组件,所述散热组件包括多个散热杆,多个散热杆呈辐射状固定在所述芯片本体上,所述散热杆的另一端抵触在所述封装外壳的内壁,所述散热杆与所述芯片本体的端部上裹有绝缘膜,所述散热杆的内部中空且所述散热杆的内部填入有冰晶混合物。所述封装外壳的壳壁呈双层构造且所述封装外壳的壳壁的内部设有容纳腔,所述容纳腔与所述散热杆的内部连接。MUR3040CD是什么类型的管子?TO220封装的快恢复二极管MURF1660CT
MURB3060CT是什么类型的管子?TO220封装的快恢复二极管MURF1660CT
电力电子器件的缓冲电路(snubbercircuit)又称吸收电路,它是电力电子器件的一种重要的保护电路,不仅用于半控型器件的保护,而且在全控型器件(如GTR、GTO、功率MOSFET和IGBT等)的应用技术中起着重要的作用。晶闸管开通时,为了防止过大的电流上升率而烧坏器件,往往在主电路中串入一个扼流电感,以限制过大的di/dt,串联电感及其配件组成了开通缓冲电路,或称串联缓冲电路。晶闸管关断时,电源电压突加在管子上,为了抑制瞬时过电压和过大的电压上升率,以防止晶闸管内部流过过大的结电容电流而误触发,需要在晶闸管的两端并联一个RC网络,构成关断缓冲电路,或称并联缓冲电路。IGBT的缓冲电路功能更侧重于开关过程中过电压的吸收与抑制,这是由于IGBT的工作频率可以高达30~50kHz;因此很小的电路电感就可能引起颇大的LdiC/dt,从而产生过电压,危及IGBT的安全。PWM逆变器中IGBT在关断和开通中的uCE和iC波形。在iC下降过程中IGBT上出现了过电压,其值为电源电压UCC和LdiC/dt两者的叠加。IGBT缓冲电路中的二极管必须是快恢复的二极管,电容必须是高频、损耗小,频率特性好的薄膜电容。这样才能取得好的吸收效果。 TO220封装的快恢复二极管MURF1660CT
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